光譜橢偏儀

簡要描述：光譜橢偏儀
SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

產(chǎn)品型號：SENDIRA
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2025-10-20
訪問量：1263

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

薄膜測量儀器

光譜橢偏儀

相關(guān)文章

自動掃描薄膜測量儀器的性能優(yōu)勢精密制造之匙——刻蝕系統(tǒng)的奧秘與力量靈活的自動掃描系統(tǒng)的構(gòu)成模型分析常規(guī)生物切片分析用什么顯微鏡奧林巴斯 CKX53 可以數(shù)碼拍照倒置顯微鏡奧林巴斯CX33生物顯微鏡故障解決方法

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,電子/電池

光譜橢偏儀

橢偏振動光譜

利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

傅立葉紅外光譜儀FTIR適用

集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于一般的振動光譜。

光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應(yīng)用(FTIR)設(shè)計(jì)的。緊湊型測量臺包括橢圓儀光學(xué)部件，計(jì)算機(jī)控制角度計(jì)，水平樣品臺，自動準(zhǔn)直透鏡，商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400?cm-1 ～6,000?cm-1 (1.7?µm?–?25?µm)光譜范圍內(nèi)提供了的精度和分辨率。

光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動光譜分析。應(yīng)用范圍從介質(zhì)膜、TCO、半導(dǎo)體膜到有機(jī)膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作，另外還提供了FTIR軟件。